SLJ-1雙稜鏡干涉實驗儀$n導軌••↟：鋁製導軌◕₪▩↟╃，長1000mm$n光源••↟：半導體鐳射器◕₪▩↟╃，鈉燈或白光光源可選$n狹縫••↟：0-2mm可調◕₪▩↟╃，帶二維調節$n測微目鏡••↟：放大率15倍◕₪▩↟╃，測量範圍8cm$n像屏••↟：白色像屏

WPZ-III塞曼效應實驗儀（智慧型） 1◕₪▩、永磁鐵 磁感應強度B＞1.0T◕₪▩↟╃，以實際測定為準 2◕₪▩、F-P標準具 通光口徑φ40mm 空氣隙石英間隙2 mm 中心波長546.1nm. 分辨能力λ/ dλ≥2×105 高反射頻寬100nm 3◕₪▩、干涉濾光片 中心波長546.1 nm 透射頻寬≤10 nm 峰值透過率≥55%

WGZ-IIA光強分佈測定儀 單縫◕₪▩、單絲◕₪▩、雙縫◕₪▩、多縫等衍射◕₪▩、干涉圖形的一維光強分佈測定；小孔◕₪▩、小屏◕₪▩、矩孔◕₪▩、雙孔◕₪▩、光柵和正交光柵等的衍射◕₪▩、干涉現象演示實驗；偏振光實驗光強變化的測定；驗證馬呂斯定律.1.導軌長度:1000mm .2.半導體鐳射器:配置精密二維調整架◕₪▩↟╃，波長635nm◕₪▩↟╃，功率3mv.

JCD3讀數顯微鏡$n產品簡介$n可作長度測量◕₪▩↟╃，也可作觀察使用₪₪▩₪✘。可置水平和垂直位置◕₪▩↟╃，能搭成各種測試裝置₪₪▩₪✘。$n產品配置$n主要技術指標要求••↟：1◕₪▩、顯微鏡放大倍率為30倍◕₪▩↟╃，工作距離54.06mm◕₪▩↟╃，視場直徑4.8mm；2◕₪▩、測量範圍••↟：縱向50mm◕₪▩↟╃，ZUI小讀數0.01mm,升降方向40mm◕₪▩↟╃，ZUI小讀數0.01mm；

WSM100/200邁克爾遜干涉儀 產品簡介 觀察光的干涉現象（等厚條紋◕₪▩、等傾條紋◕₪▩、白光彩色條紋）◕₪▩↟╃，測定單色光波長◕₪▩↟╃，測定光源和濾光片相干長度◕₪▩、配法布里─珀羅系統觀察多光束干涉現象 產品配置 1◕₪▩、移動鏡行程••↟：WSM─100型 100mm WSM─200型 200mm 2◕₪▩、微動手輪分度值••↟： 0.0001mm