• SLJ-1雙稜鏡干涉實驗儀
    SLJ-1雙稜鏡干涉實驗儀

    SLJ-1雙稜鏡干涉實驗儀$n導軌·◕₪•:鋁製導軌☁☁,長1000mm$n光源·◕₪•:半導體鐳射器☁☁,鈉燈或白光光源可選$n狹縫·◕₪•:0-2mm可調☁☁,帶二維調節$n測微目鏡·◕₪•:放大率15倍☁☁,測量範圍8cm$n像屏·◕₪•:白色像屏

    時間·◕₪•:2022-04-25型號·◕₪•:SLJ-1
  • WPZ-III塞曼效應實驗儀(智慧型)
    WPZ-III塞曼效應實驗儀(智慧型)

    WPZ-III塞曼效應實驗儀(智慧型) 1☁↟╃₪◕、永磁鐵 磁感應強度B>1.0T☁☁,以實際測定為準 2☁↟╃₪◕、F-P標準具 通光口徑φ40mm 空氣隙石英間隙2 mm 中心波長546.1nm. 分辨能力λ/ dλ≥2×105 高反射頻寬100nm 3☁↟╃₪◕、干涉濾光片 中心波長546.1 nm 透射頻寬≤10 nm 峰值透過率≥55%

    時間·◕₪•:2020-04-06型號·◕₪•:WPZ-III
  • WGZ-IIA光強分佈測定儀
    WGZ-IIA光強分佈測定儀

    WGZ-IIA光強分佈測定儀 單縫☁↟╃₪◕、單絲☁↟╃₪◕、雙縫☁↟╃₪◕、多縫等衍射☁↟╃₪◕、干涉圖形的一維光強分佈測定;小孔☁↟╃₪◕、小屏☁↟╃₪◕、矩孔☁↟╃₪◕、雙孔☁↟╃₪◕、光柵和正交光柵等的衍射☁↟╃₪◕、干涉現象演示實驗;偏振光實驗光強變化的測定;驗證馬呂斯定律.1.導軌長度:1000mm .2.半導體鐳射器:配置精密二維調整架☁☁,波長635nm☁☁,功率3mv.

    時間·◕₪•:2020-04-06型號·◕₪•:WGZ-IIA
  • JCD3讀數顯微鏡
    JCD3讀數顯微鏡

    JCD3讀數顯微鏡$n產品簡介$n可作長度測量☁☁,也可作觀察使用╃•。可置水平和垂直位置☁☁,能搭成各種測試裝置╃•。$n產品配置$n主要技術指標要求·◕₪•:1☁↟╃₪◕、顯微鏡放大倍率為30倍☁☁,工作距離54.06mm☁☁,視場直徑4.8mm;2☁↟╃₪◕、測量範圍·◕₪•:縱向50mm☁☁,ZUI小讀數0.01mm,升降方向40mm☁☁,ZUI小讀數0.01mm;

    時間·◕₪•:2022-04-25型號·◕₪•:JCD3
  • WSM100/200邁克爾遜干涉儀
    WSM100/200邁克爾遜干涉儀

    WSM100/200邁克爾遜干涉儀 產品簡介 觀察光的干涉現象(等厚條紋☁↟╃₪◕、等傾條紋☁↟╃₪◕、白光彩色條紋)☁☁,測定單色光波長☁☁,測定光源和濾光片相干長度☁↟╃₪◕、配法布里─珀羅系統觀察多光束干涉現象 產品配置 1☁↟╃₪◕、移動鏡行程·◕₪•:WSM─100型 100mm WSM─200型 200mm 2☁↟╃₪◕、微動手輪分度值·◕₪•: 0.0001mm

    時間·◕₪•:2020-04-06型號·◕₪•:WSM100/200
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